¿Cuál es el número del SEM?

Microscopio electrónico de barrido

Los electrones retrodispersados (BSE) son electrones incidentes que se reflejan desde un espécimen objetivo y se visualizan con el microscopio electrónico de barrido (SEM). Existen tres señales BSE distintas: el número atómico o contraste Z, en el que la composición determina el contraste de la imagen; el contraste de orientación, en el que la estructura cristalina de la muestra determina el contraste de la imagen; y los patrones de canalización de electrones (ECP), que son únicos para una orientación cristalina concreta. Se describen los orígenes de estas tres señales, prestando especial atención a los requisitos operativos y de preparación de la muestra necesarios para el MEB. Las imágenes de contraste Z son relativamente sencillas de obtener y también tienen un aspecto familiar, por lo que su uso debería ser habitual. En comparación, las ECP requieren una interpretación posterior que depende de la estructura del cristal y de la relación entre los sistemas de coordenadas del cristal y de la muestra. Por lo tanto, se presenta una solución general para la interpretación del ECP, que implica la construcción de “mapas ECP” de referencia sobre la superficie de una esfera. También se ofrece un breve resumen de las aplicaciones y el uso potencial de las tres señales de BSE en las ciencias geológicas.

Explicación de la microscopía electrónica de barrido

Un microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra mediante el barrido de la superficie con un haz de electrones enfocado. Los electrones interactúan con los átomos de la muestra, produciendo varias señales que contienen información sobre la topografía de la superficie y la composición de la muestra. El haz de electrones se escanea siguiendo un patrón de barrido de trama, y la posición del haz se combina con la intensidad de la señal detectada para producir una imagen. En el modo más común de SEM, los electrones secundarios emitidos por los átomos excitados por el haz de electrones se detectan mediante un detector de electrones secundarios (detector Everhart-Thornley). El número de electrones secundarios que pueden detectarse, y por tanto la intensidad de la señal, depende, entre otras cosas, de la topografía de la muestra. Algunos MEB pueden alcanzar resoluciones superiores a 1 nanómetro.

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Las muestras se observan en alto vacío en un MEB convencional, o en bajo vacío o en condiciones húmedas en un MEB de presión variable o ambiental, y en una amplia gama de temperaturas criogénicas o elevadas con instrumentos especializados[1].

Aplicaciones de sem

Marca ImageProVision Technology Uso/aplicación Laboratorio, industria farmacéutica Fuente de luz Según productos Nombre/número de modelo ipvNano Ampliación Según productos País de origen Fabricado en la India

Especificación del producto Marca ImageProVision Technology Uso/aplicación Laboratorio, industria farmacéutica Fuente de luz Según productos Nombre/número de modelo ipvNano Aumento Según productos País de origen Fabricado en la India Cuerpo Según productos Tamaño Según productos

ipvNano de ImageProVision cuenta con un algoritmo único y un software fácil de usar para la observación y el análisis de nanopartículas. Las imágenes de la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) y de la Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) se analizan con rapidez y precisión. Las imágenes se calibran automáticamente. Las imágenes de las partículas se toman por separado y el software ayuda a obtener la información detallada de las nano-partículas en la muestra. Cada actividad se registra en un registro de auditoría con fecha y hora. Los métodos pueden ser construidos y almacenados, reduciendo así los errores para el análisis de rutina. Los datos se guardan automáticamente en la base de datos proporcionada. ipvNano es una extensión del microscopio de alta resolución para el análisis de nano partículas. Reduce el error humano. ipvNano es un sistema que cumple con el 21-CFR parte 11, lo que asegura el cumplimiento de los requisitos reglamentarios.

Electrones secundarios sem

La interacción del haz con la muestra da lugar a varios tipos de señales, es decir, electrones secundarios y retrodispersados, así como radiación y fotones. Durante la formación en microscopía, nuestros usuarios aprenden cómo se generan y detectan los diferentes tipos de señales, así como qué enfoque se adapta mejor a su aplicación.

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Este tipo de imágenes proporciona información sobre los detalles de la superficie (forma, tamaño, etc.). Nuestro Gemini II 450 está equipado con el Detector de Electrones Secundarios Everhart Thornley (ETD SE2) y el Detector de Electrones Secundarios InLens, que suelen utilizarse para detalles de baja a media resolución y de muy alta resolución, respectivamente. La cantidad de señal depende de la topografía, produciéndose normalmente más señal cerca de los bordes.

Los átomos de diferentes números atómicos producen diferentes cantidades de señal de electrones retrodispersados. Una imagen adquirida utilizando electrones retrodispersados presentará regiones más brillantes en lugares donde la muestra está compuesta por átomos de mayor número atómico, y regiones más oscuras en lugares donde la muestra está compuesta por átomos de menor número atómico. Por lo tanto, las regiones saturadas de metales pesados (número atómico alto), por ejemplo las membranas osmóticas, aparecerán más brillantes que el fondo de carbono del medio de incrustación de resina (número atómico bajo).